【技術セミナーのお知らせ】X線吸収分光法基礎研修

X線吸収微細構造（XAFS）は、試料に照射するX線のエネルギーを走査した際に得られる吸収スペクトルの微細な構造を解析することで、注目する元素の配位数、分子対称性、原子間距離、および酸化状態といった局所的な構造情報を得ることができる手法です。

本講習会は、特にこれから放射光施設での測定を検討されている方や、ラボ機での分析に限界を感じている方を対象として開催いたします。シンクロトロン光を利用したXAFS測定がもたらす圧倒的な情報量と、ラボ型装置では困難な微量分析・迅速測定のメリット、さらには解析の基礎から実例までを体系的に学ぶことを目的としています。